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機能性ナノ・マイクロ粒子 - Micromod
| 標準製品リスト | 分類表 | 表面修飾基 | アプリケーションキット | 各種サービス | 参考文献 |


1.受託粒子表面修飾
お手元の他社製品粒子をお送りいただき、マイクロモッド社の熟練された技術で、ご指定された修飾基での表面修飾を行うサービスです。各種官能基、高分子鎖、抗体、タンパク質、金属コロイド、蛍光標識、ゼータ電位調整など、ご希望の用途、修飾基をお問い合わせください。

以下はマイクロモッド社の粒子についてデータを添付するサービスです。
2.粒径分布測定(マイクロ粒子)
ISO9001のガイドラインに従い、粒径2〜300μmのマイクロ粒子の粒径分布を測定します。数平均粒径、重量平均粒径、cv値、粒径分布データおよび分布図をご提供します。
測定機器粒径分析装置 Multisizer II (COULTER Electronics社製)
測定原理コールター原理(電気抵抗法)
標準NIST準拠 標準粒子 (Duke Scientific社製)

3.粒径分布測定(ナノ粒子)
ISO9001のガイドラインに従い、粒径5〜2000nmのナノ粒子の粒径分布を測定します。数平均粒径、重量平均粒径、多分散指数、粒径分布データおよび分布図をご提供します。
測定機器Zetasizer NanoZS90 (MALVERN Instruments社製)
測定原理光子相関分光法 (PCS)、動的光散乱法
標準NIST準拠 標準粒子 粒径204nm (Duke Scientific社製)

4.ゼータ電位測定
ISO9001のガイドラインに従い、粒径5nm〜20μmのナノ粒子/マイクロ粒子について、標準条件下(0.0001 M KCl溶液中)、または指定されたpHと電解質溶液中におけるゼータ電位を測定します。
測定機器ゼータ電位測定装置 Zetasizer NanoZS90 (MALVERN Instruments社製)
測定原理レーザードップラー速度測定法 (LDV)
標準DTS5050 電気泳動標準キット (MALVERN Instruments 社製)

5.ゼータ電位測定(pH 依存性)
ISO9001のガイドラインに従い、粒径5nm〜20μmのナノ粒子/マイクロ粒子について、pH 2〜10におけるゼータ電位を測定します。ゼータ電位測定装置と自動滴定装置を組み合わせることで、ゼータ電位のpH依存性を決定することが可能です。
測定機器ゼータ電位測定装置 Zetasizer NanoZS90、自動滴定装置
測定原理レーザードップラー速度測定法 (LDV)
標準DTS5050 電気泳動標準キット (MALVERN Instruments 社製)

6.官能基密度測定
粒子表面の官能基(COOH基、SO3H基、NH2基)の定量を行うサービスです。流動電位法によるコロイド滴定を用いて、粒子の電荷量測定を行い、粒子表面の官能基密度(○ nmol 官能基/mg 粒子)としてのデータをご提供します。


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